Firma National Instruments (NI), dostawca opartych o platformy systemów, które umożliwiają inżynierom i naukowcom rozwiązywanie największych na świecie zadań inżynierskich, ogłosiła 2 sierpnia, podczas NI Week, wprowadzenie generatora wzorów cyfrowych (digital pattern instrument) NI PXIe-6570 oraz Edytora Wzorów Cyfrowych NI (NI Digital Pattern Editor). Ten produkt uwalnia producentów układów scalonych ? do komunikacji radiowej RFIC (radio frequency integrated circuits), do zarządzania zasilaniem PMIC (power management integrated circuits), mikroukładów mechanicznych MEMS (microelectromechanical systems) oraz układów scalonych mieszanych (mixed-signal ? przetwarzających zarówno sygnały analogowe jak i cyfrowe) ? od zamkniętej architektury konwencjonalnych, zautomatyzowanych testerów półprzewodników (automated test equipment, ATE).
Wymagania dotyczące najnowszych urządzeń półprzewodnikowych często przekraczają możliwości testowe tradycyjnych zautomatyzowanych układów testowych ATE. Poprzez przeniesienie wzorca testów cyfrowych, ustanowionego w przemyśle półprzewodnikowym, na otwartą platformę przemysłowego standardu PXI, wykorzystywaną w Systemie Testowania Półprzewodników (Semiconductor Test System, STS) firmy NI, oraz rozwinięcie go w potężny i przyjazny dla użytkownika edytor wzorów oraz debugger, klienci mogą wykorzystać zalety najnowszych przyrządów PXI do zmniejszenia kosztów testów i zwiększenia przepustowości testowania układów scalonych pracujących na częstotliwościach radiowych (RF) i układów typu analog-centric (?z analogowym centrum?).
?Tester PXI Digital Pattern Instrument jest podstawowym dodatkiem do systemu STS, ponieważ daje on inżynierom wszystkie te możliwości, jakie oferują im tylko najwyższej klasy cyfrowe platformy testowe?, powiedział Ron Wolfe, wiceprezes NI ds. testowania półprzewodników. ?Mając takie możliwości w hali produkcyjnej, jakie daje generator PXI, inżynierowie mogą spełnić wymagania cenowe i testowe najnowszych technologicznie urządzeń, jednocześnie łatwo przystosowując go do innych elementów z ich katalogów?.
Generator wzorów cyfrowych NI PXIe-6570 zapewnia wymagane możliwości testowania układów scalonych powszechnie stosowanych w urządzeniach bezprzewodowych oraz urządzeniach Internetu Rzeczy za ekonomiczną cenę przypadającą na 1 pin układu scalonego. Jego cechy to: generacja wzorów z prędkością 100 megawektorów/s (MVectors per second) z niezależnego źródła, urządzenia do przechwytu (capture engines) i funkcje parametryczne napięciowo-prądowe do 256 synchronizowanych pinów cyfrowych w pojedynczym podsystemie. Użytkownicy mogą wykorzystać otwartość generatora PXI i systemu STS do dodawania tylu urządzeń, ile potrzebują, aby konfiguracja testowa spełniała wymagania dotyczące liczby pinów urządzeń i miejsca produkcji.
Nowe oprogramowanie, Edytor Wzorów Cyfrowych, integruje edytowanie środowisk dla map pinów urządzeń, specyfikacje i wzory do szybszego opracowywania planów testowych; wbudowane narzędzia,takie jak generowanie wzorów dla wielu miejsc produkcji i wielu przyrządów, umożliwiają płynne przejście od etapu opracowania do produkcji, zaś narzędzia takie jak wykresy shmoo (shmoo plots) i interaktywne widoki pinów umożliwiają bardziej wydajne debugowanie i optymalizowanie testów.
Wykonywanie testów charakterystyk i produkcyjnych za pomocą tego samego sprzętu PXI, oraz oprogramowania TestStand, LabVIEW i Edytor Wzorów Cyfrowych, zmniejszają wysiłki związane z korelacją danych, co może pomóc użytkownikom skrócić czas do wprowadzenia ich wyrobów na rynek. Małe wymiary sprzętu PXI oraz wnętrza i otoczenia systemu STS oszczędzają miejsce w hali produkcyjnej. Sprzęt na stanowisku testowym może być zasilany ze zwykłych sieciowych gniazd ściennych.
?PXI sprawdził się jako wyjątkowa kombinacja sprzętu i oprogramowania, która może skutecznie nawigować zarówno po hali fabrycznej, jak i stanowisku testowym?, dodał wiceprezes Wolfe. ?Generator wzorów cyfrowych NI oraz Edytor Wzorów Cyfrowych reprezentują ważne innowacje, pomagające producentom i laboratoriom badawczym obniżyć koszty testów i poprawić opracowywanie programów testowych?.
Firmy z branży półprzewodników adaptują obecnie platformę firmy NI oraz ekosystem w celu budowania bardziej inteligentnych systemów testujących. Poza gotową do produkcji serią STS także wektorowe transceivery sygnałów pracujące w paśmie 1 GHz, testery typu SMU (source measure unit ? połączenie generatora z miernikiem) klasy fA, oraz moduł oprogramowania testowego TestStand Semiconductor Module firmy NI, czerpią zyski z ponad 600 produktów PXI, pracujących w zakresie od prądu stałego (DC) do fal milimetrowych. Cechują się one bardzo dużą przepustowością danych za pomocą interfejsów PCI Express 3 generacji oraz subnanosekundową synchronizacją ze zintegrowanym taktowaniem i wyzwalaniem. Użytkownicy mogą wykorzystać wydajność środowisk programowych LabVIEW i TestStand, wraz z żywym ekosystemem partnerów, inżynierów zajmujących się rozszerzeniami i aplikacjami, aby obniżyć koszty testów, skrócić czas do wprowadzenia produktów na rynek, oraz ponadczasowych testerów dla jutrzejszych, pełnych wyzwań wymagań dla urządzeń testowych pracujących w zakresie fal radiowych i z mieszanymi sygnałami analogowo-cyfrowymi.
Pełna wersję tego artykułu, opisującą zastosowanie generatora wzorów cyfrowych PXI klasy ATE na przemysłowej platformie PXI, można znaleźć na stronie http://www.ni.com/white-paper/53237/en/
Źródło: NI